| Título visualizado | Procedimiento de concesión II: presentación y examen en Directrices protección topografías semiconductores |
| Criterio de ordenación predeterminado | Procedimiento de concesión II: presentación y examen en Directrices protección topografías semiconductores |
| Longitud de la página (en bytes) | 5446 |
| Identificador de la página | 2993 |
| Idioma de la página | español (es) |
| Modelo de contenido de la página | texto wiki |
| Indización por robots | Permitido |
| Número de redirecciones a esta página | 0 |
| Contado como página de contenido | Sí |
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| Editar | Permitir todos los usuarios |
| Pueden trasladar | Permitir todos los usuarios |
| Creador de la página | OEPM (Discusión | contribuciones) |
| Fecha de creación de la página | 01:06 8 feb 2013 |
| Último editor | OEPM (Discusión | contribuciones) |
| Fecha de la última edición | 01:08 8 feb 2013 |
| Número total de ediciones | 2 |
| Número total de autores distintos | 1 |
| Número de ediciones recientes (en los últimos 90 días) | 0 |
| Número de autores distintos recientes | 0 |
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| Plantillas incluidas (4) | Plantillas usadas en esta página:
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